ВИХРОСТРУМОВИЙ ДЕФЕКТОСКОП З НИЗЬКОЮ ЧУТЛИВІСТЮ ДО ШОРСТКОСТІ ПОВЕРХНІ ОБ’ЄКТА КОНТРОЛЮ - Хомяк, Ю. В.; Сучков, Г. М.; Тараненко, Ю. К.; Глоба, С. Н.; Слободчук, А. Ю. (METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, 2015)
Проаналізовано практичні особливості конструкцій і варіанти розташування котушок накладних ортогональних вихрострумових перетворювачів. Описана структурна схема вихрострумового дефектоскопу, управління якою здійснюється за допомогою мікроконтролера. В якості керуючого мікроконтролера використана мікросхема ATmega32 фірми Atmel Corporation. Розроблено та виготовлено макет вихрострумового дефектоскопу. Випробування показали, що поверхневі дефекти у вигляді тріщин виявляються з мінімальною чутливістю до шорсткості поверхні об'єкта контролю та ідентифікуються по глибині.