Фреїк, Д. М., Галущак, М. О., Терлецький, А. І., Запухляк, Р. І., Дикун, Н. І., & Ткачук, А. І. (2011). Cell for measuring parameters of semiconductor thermoelectric materials. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(26), 94–96. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/262