Надорожняк, Х. О., Витвицька, Л. А., Литвин, О. С., Литвин, П. М., Середюк, О. Є., & Прокопенко, І. В. (2011). Metrology analysis and metrology providing of atomic-power microscopy. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(26), 77–84. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195