НАДОРОЖНЯК, Х. О.; ВИТВИЦЬКА, Л. А.; ЛИТВИН, О. С.; ЛИТВИН, П. М.; СЕРЕДЮК, О. Є.; ПРОКОПЕНКО, І. В. Метрологічний аналіз та метрологічне забезпечення атомно-силової мікроскопії. Методи та прилади контролю якості, [S. l.], n. 1(26), p. 77–84, 2011. Disponível em: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195. Acesso em: 6 чер. 2025.