ФРЕЇК, Д. М.; ГАЛУЩАК, М. О.; ТЕРЛЕЦЬКИЙ, А. І.; ЗАПУХЛЯК, Р. І.; ДИКУН, Н. І.; ТКАЧУК, А. І. Cell for measuring parameters of semiconductor thermoelectric materials. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, [S. l.], n. 1(26), p. 94–96, 2011. Disponível em: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/262. Acesso em: 22 nov. 2024.