НАДОРОЖНЯК, Х. О.; ВИТВИЦЬКА, Л. А.; ЛИТВИН, О. С.; ЛИТВИН, П. М.; СЕРЕДЮК, О. Є.; ПРОКОПЕНКО, І. В. Metrology analysis and metrology providing of atomic-power microscopy. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, [S. l.], n. 1(26), p. 77–84, 2011. Disponível em: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195. Acesso em: 13 may. 2024.