Галущак, М. О., Б. С. Дзундза, А. І. Ткачук, and Д. М. Фреїк. 2013. “AUTOMATED COMPLEX FOR MEASUREMENT OF THERMOELECTRIC PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS”. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, no. 1(30) (June):79-83. https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/161.