Х. О. Надорожняк, Л. А. Витвицька, О. С. Литвин, П. М. Литвин, О. Є. Середюк, and І. В. Прокопенко, “Metrology analysis and metrology providing of atomic-power microscopy”, mpky, no. 1(26), pp. 77–84, May 2011.