[1]
Х. О. Надорожняк, Л. А. Витвицька, О. С. Литвин, П. М. Литвин, О. Є. Середюк, і І. В. Прокопенко, «Метрологічний аналіз та метрологічне забезпечення атомно-силової мікроскопії», mpky, вип. 1(26), с. 77–84, Трав 2011.