[1]
М. О. Галущак, Д. М. Фреїк, М. О. Карпаш, і А. І. Ткачук, «Метод вимірювання термоелектричної добротності напівпровідникових матеріалів», mpky, вип. 1(26), с. 97–99, Бер 2011.