[1]
Д. М. Фреїк, М. О. Галущак, А. І. Терлецький, Р. І. Запухляк, Н. І. Дикун, and А. І. Ткачук, “Cell for measuring parameters of semiconductor thermoelectric materials”, mpky, no. 1(26), pp. 94–96, Mar. 2011.