Надорожняк, Х. О., Л. А. Витвицька, О. С. Литвин, П. М. Литвин, О. Є. Середюк, і І. В. Прокопенко. «Метрологічний аналіз та метрологічне забезпечення атомно-силової мікроскопії». Методи та прилади контролю якості, no. 1(26) (Травень 17, 2011): 77–84. дата звернення Червень 6, 2025. https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195.