Надорожняк, Х. О., Л. А. Витвицька, О. С. Литвин, П. М. Литвин, О. Є. Середюк, and І. В. Прокопенко. “Metrology Analysis and Metrology Providing of Atomic-Power Microscopy”. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, no. 1(26) (May 17, 2011): 77–84. Accessed May 13, 2024. https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195.