Галущак МО, Дзундза БС, Ткачук АІ, Фреїк ДМ. AUTOMATED COMPLEX FOR MEASUREMENT OF THERMOELECTRIC PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS. mpky [Internet]. 2013 Jun. 12 [cited 2024 Nov. 21];(1(30):79-83. Available from: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/161