Надорожняк ХО, Витвицька ЛА, Литвин ОС, Литвин ПМ, Середюк ОЄ, Прокопенко ІВ. Metrology analysis and metrology providing of atomic-power microscopy. mpky [Internet]. 2011 May 17 [cited 2024 Nov. 22];(1(26):77-84. Available from: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195