IMPROVING THE ACCURACY OF MEASUREMENT REFRACTIVE INDEX THROUGH THE USE OF SUB-PIXEL LOCALIZATION METHOD EDGE OF THE OBJECT
Keywords:
refractive index, edge detection, the method of sub-pixel edge localization of the object, boundary curve, low-frequency filtration.Abstract
A new method for sub-pixel localization of the edge object and selection of a contour based on low-frequency filtration boundary curve for finding border of chiaroscuro in the measurement of the refractive index has been offered. Function of transformation coordinate of border edge of boundary curve in inter-pixel space has been received and experimental researches have been lead.
Downloads
Download data is not yet available.
References
1. Иоффе Б. В. Рефрактометрические методи в химии 3-е изд., перераб. / Б.В. Иоффе – Л.: Химия, 1983. – 352 с.
2. Лейкин М.В. Oтражательная рефрактометрия / М.В. Лейкин, Б.И. Молочников, В.Н. Морозов, Э.С. Шакарян. – Л.: Машиностроение. – 1983. – 285 с.
3. Білинський Й. Й. Рефрактометричний вимірювач прозорих і поглинаючих середовищ / Й. Й. Білинський, О. С. Городецька // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2003. – №12(5-6) – С.147-153.
4. Білинський Й. Й. Спосіб визначення границі світлотіні рефрактометричних вимірювачів / Й. Й. Білинський // Вісник Хмельницького національного університету. – 2006. – №2. – С.62-66.
5. Муравський Л. І. Вплив шумів оптико-цифрової системи на точність вимірювання геометричних параметрів бінарних тіньових зображень / Л. І. Муравський // Автоматизація виробничих процесів у машинобудуванні та приладобудуванні. – 2000. – Вип. 35. – С. 113-118.
6. Сойфер В. А. Методы компьютерной обработки зображений / Сойфер В.А. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. – 784 с.
7. Yang C. C. Analysis of errors in dimensional inspection based on active vision / Yang C. C., Marefat M. M., Ciarallo F. W. // Proc. SPIE. – 1994. – Vol. 2354. – P. 96–104.
8. Білинський Й. Й. Метод субпікселного визначення краю об’єкта на зображенні на основі низькочастотної фільтрації / Білинський Й.Й., Мотигін В. В. // Вісник Вінницького політехнічного інституту.– 2008. – №3. – С.5-8.
9. Bilynskyi J.J. Subpixel and Image Processing / Bilynskyi J.J. // Advanced Computer Systems and Network: Design and Applicatіon: Of the 3-rd Internetional Conferens, 20-22 sept. – 2007: рroceedings – Lviv, 2007. – Р. 155–158.
2. Лейкин М.В. Oтражательная рефрактометрия / М.В. Лейкин, Б.И. Молочников, В.Н. Морозов, Э.С. Шакарян. – Л.: Машиностроение. – 1983. – 285 с.
3. Білинський Й. Й. Рефрактометричний вимірювач прозорих і поглинаючих середовищ / Й. Й. Білинський, О. С. Городецька // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2003. – №12(5-6) – С.147-153.
4. Білинський Й. Й. Спосіб визначення границі світлотіні рефрактометричних вимірювачів / Й. Й. Білинський // Вісник Хмельницького національного університету. – 2006. – №2. – С.62-66.
5. Муравський Л. І. Вплив шумів оптико-цифрової системи на точність вимірювання геометричних параметрів бінарних тіньових зображень / Л. І. Муравський // Автоматизація виробничих процесів у машинобудуванні та приладобудуванні. – 2000. – Вип. 35. – С. 113-118.
6. Сойфер В. А. Методы компьютерной обработки зображений / Сойфер В.А. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. – 784 с.
7. Yang C. C. Analysis of errors in dimensional inspection based on active vision / Yang C. C., Marefat M. M., Ciarallo F. W. // Proc. SPIE. – 1994. – Vol. 2354. – P. 96–104.
8. Білинський Й. Й. Метод субпікселного визначення краю об’єкта на зображенні на основі низькочастотної фільтрації / Білинський Й.Й., Мотигін В. В. // Вісник Вінницького політехнічного інституту.– 2008. – №3. – С.5-8.
9. Bilynskyi J.J. Subpixel and Image Processing / Bilynskyi J.J. // Advanced Computer Systems and Network: Design and Applicatіon: Of the 3-rd Internetional Conferens, 20-22 sept. – 2007: рroceedings – Lviv, 2007. – Р. 155–158.
Downloads
Published
2013-06-11
How to Cite
Білинська, Й. Й., & Городецька, О. С. (2013). IMPROVING THE ACCURACY OF MEASUREMENT REFRACTIVE INDEX THROUGH THE USE OF SUB-PIXEL LOCALIZATION METHOD EDGE OF THE OBJECT. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(30), 50–54. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/157
Issue
Section
MEASUREMENT OF PHYSICAL AND MECHANICS PARAMETERS OF SUBSTANCES
.png)
