Method of photometric mirror ellipsoid of revolution for research of roughness of surface

Authors

  • М. О. Безуглий Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», проспект Перемоги, 37, корпус 1, м. Київ, 03056, тел.: (044) 454-94-75
  • Д. В. Ботвиновський Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», проспект Перемоги, 37, корпус 1, м. Київ, 03056, тел.: (044) 454-94-75
  • В. В. Зубарєв Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», проспект Перемоги, 37, корпус 1, м. Київ, 03056, тел.: (044) 454-94-75
  • Я. О. Коцур Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», проспект Перемоги, 37, корпус 1, м. Київ, 03056, тел.: (044) 454-94-75

Keywords:

ellipsoid of revolution, rough surface, roughness, laser radiation

Abstract

The method of photometric mirror ellipsoid of revolution is considered for research of rough surface. The features of distribution of optical radiation in an ellipsoid and influence of aberration of coma are analyzed on forming of image. A construction and parameters of mirror ellipsoid of revolution are reasonable, that allowed to build a photometric head that allows to register all reflected by the investigated standard optical radiation. Characteristic researches are conducted by steel and duralumin rough surfaces and basic directions of further researches are outlined

Downloads

Download data is not yet available.

References

1. Назаров Ю.Ф. Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности – 2007. – Т.5. – №3-4. – с. 207-216.
2. Зайцев С.А. Контрольно-измерительные приборы и инструменты: Учебник / С.А. Зайцев, Д.Д. Грибанов, А.Н. Толстой, Р.В. Меркулов. – М.: Издательский центр «Академия», 2003. – 464 с.
3. Топорец А.С. Оптика шероховатой поверхности / А.С. Топорец – Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1988. – 191 с.
4. Пат. 61635 Українв, МПК 7 G01 N21/47, 21/55, Дозиметр оптичного випромінювання / Безуглий М.О., Клочко Т.Р., Тимчик Г.С., Циганков А.Т. ; заявник та патентовласник Націон. технічн. ун-т України «Київ. політехн. ін.-т». – №2003032423 ; заявл. 20.03.2003 ; опуб. 17.11.2003. Бюл. №11 – 3с.
5. Гусак А.А. Справочник по высшей математике / А.А. Гусак, Г.М. Гусак, Е.А. Бричикова. – Мн.: ТетраСистемс, 1999. – 640с.
6. Keijzer M. Light transport for medical laser treatments / M. Keijzer – Delft, 1993. – 207p.
7. Слюсарев Г.Г. Методы расчета оптических систем. Изд. 2-е. доп. и перераб. / Г.Г.Слюсарев – Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-ние 1975. – 640с.

Published

2011-12-15

How to Cite

Безуглий, М. О., Ботвиновський, Д. В., Зубарєв, В. В., & Коцур, Я. О. (2011). Method of photometric mirror ellipsoid of revolution for research of roughness of surface. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (2(27), 77–82. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/331

Issue

Section

METHODS AND DEVICES FOR THE TECHNOLOGICAL PARAMETERS CONNTROL