МЕТОД ФОТОМЕТРИЧНОГО ДЗЕРКАЛЬНОГО ЕЛІПСОЇДА ОБЕРТАННЯ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ ШОРСТКОСТІ ПОВЕРХНІ
Ключові слова:
еліпсоїд обертання, шорстка поверхня, шорсткість, лазерне випромінюванняАнотація
Розглянутий метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткої поверхні. Проаналізовані особливості поширення оптичного випромінювання в еліпсоїді та вплив аберації кома на формування зображення. Обґрунтована конструкція та параметри дзеркального еліпсоїда обертання, що дозволило побудувати фотометричну головку, котра дозволяє реєструвати все відбите досліджуваним зразком оптичне випромінювання. Проведені характеристичні дослідження стальної та дюралюмінієвої шорстких поверхонь та окреслені основні напрямки для подальших досліджень
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Посилання
1. Назаров Ю.Ф. Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов / Ю.Ф. Назаров, А.М. Шкилько, В.В. Тихоненко, И.В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности – 2007. – Т.5. – №3-4. – с. 207-216.
2. Зайцев С.А. Контрольно-измерительные приборы и инструменты: Учебник / С.А. Зайцев, Д.Д. Грибанов, А.Н. Толстой, Р.В. Меркулов. – М.: Издательский центр «Академия», 2003. – 464 с.
3. Топорец А.С. Оптика шероховатой поверхности / А.С. Топорец – Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1988. – 191 с.
4. Пат. 61635 Українв, МПК 7 G01 N21/47, 21/55, Дозиметр оптичного випромінювання / Безуглий М.О., Клочко Т.Р., Тимчик Г.С., Циганков А.Т. ; заявник та патентовласник Націон. технічн. ун-т України «Київ. політехн. ін.-т». – №2003032423 ; заявл. 20.03.2003 ; опуб. 17.11.2003. Бюл. №11 – 3с.
5. Гусак А.А. Справочник по высшей математике / А.А. Гусак, Г.М. Гусак, Е.А. Бричикова. – Мн.: ТетраСистемс, 1999. – 640с.
6. Keijzer M. Light transport for medical laser treatments / M. Keijzer – Delft, 1993. – 207p.
7. Слюсарев Г.Г. Методы расчета оптических систем. Изд. 2-е. доп. и перераб. / Г.Г.Слюсарев – Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-ние 1975. – 640с.
2. Зайцев С.А. Контрольно-измерительные приборы и инструменты: Учебник / С.А. Зайцев, Д.Д. Грибанов, А.Н. Толстой, Р.В. Меркулов. – М.: Издательский центр «Академия», 2003. – 464 с.
3. Топорец А.С. Оптика шероховатой поверхности / А.С. Топорец – Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1988. – 191 с.
4. Пат. 61635 Українв, МПК 7 G01 N21/47, 21/55, Дозиметр оптичного випромінювання / Безуглий М.О., Клочко Т.Р., Тимчик Г.С., Циганков А.Т. ; заявник та патентовласник Націон. технічн. ун-т України «Київ. політехн. ін.-т». – №2003032423 ; заявл. 20.03.2003 ; опуб. 17.11.2003. Бюл. №11 – 3с.
5. Гусак А.А. Справочник по высшей математике / А.А. Гусак, Г.М. Гусак, Е.А. Бричикова. – Мн.: ТетраСистемс, 1999. – 640с.
6. Keijzer M. Light transport for medical laser treatments / M. Keijzer – Delft, 1993. – 207p.
7. Слюсарев Г.Г. Методы расчета оптических систем. Изд. 2-е. доп. и перераб. / Г.Г.Слюсарев – Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-ние 1975. – 640с.
##submission.downloads##
Опубліковано
2011-12-15
Як цитувати
Безуглий, М. О., Ботвиновський, Д. В., Зубарєв, В. В., & Коцур, Я. О. (2011). МЕТОД ФОТОМЕТРИЧНОГО ДЗЕРКАЛЬНОГО ЕЛІПСОЇДА ОБЕРТАННЯ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ ШОРСТКОСТІ ПОВЕРХНІ. Методи та прилади контролю якості, (2(27), 77–82. вилучено із https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/331
Номер
Розділ
МЕТОДИ ТА ПРИЛАДИ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПАРАМЕТРІВ
.png)
