СУБПІКСЕЛНЕ ВИМІРЮВАННЯ ГЕОМЕТРИЧНИХ ПАРАМЕТРІВ СЕГМЕНТНИХ ЕЛЕМЕНТІВ ЗОБРАЖЕННЯ

Authors

  • Й. Й. Білинський Вінницький національний технічний університет, Хмельницьке шосе, 95, м. Вінниця, 21021, тел. (8-067)9332538

Keywords:

Gaussian, Gauss low-pass filter, luminance profile, segment elements of image, edge

Abstract

A method of image segment geometrics determining is proposed basing on localization of luminance profile using unit masks of Gauss low-passfilters with corresponding orientation. It enables getting the characteristic points of luminance profiles intersection before and after filtering. As the result the formulas to determine the boundary of the luminance profiles, the mass center of the light spot and the coordinates of line are derived. An algorithm of image edge detection is proposed, its main advantage is the thinned edge. Developed methods were used for measurement of geometric parameters and for edge detection of lying drop

Downloads

Download data is not yet available.

References

1. Гонсалес Р., Вудс Р. Цифровая обработка изображений. – М.: Техносфера, 2005. – 1072 с.
2. Fisher R. B., Naidu D. K. A Comparison of Algorithms for Subpixel Peak Detection //Advances in Image Processing, Multimedia and Machine Vision. –Heidelberg: Springer-Verlag, 1996. – P. 205 – 229.
3. Сойфер В.А. Методы компьютерной обработки изображений. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. – 784 с.
4. Кононов В.И. и др. Оптические системы построения изображений. – К.: Техніка, 1981. – 133с.

Published

2007-12-06

How to Cite

Білинський, Й. Й. (2007). СУБПІКСЕЛНЕ ВИМІРЮВАННЯ ГЕОМЕТРИЧНИХ ПАРАМЕТРІВ СЕГМЕНТНИХ ЕЛЕМЕНТІВ ЗОБРАЖЕННЯ. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (2(19), 35–39. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/31

Issue

Section

METHODS AND DEVICES FOR THE TECHNOLOGICAL PARAMETERS CONNTROL

Most read articles by the same author(s)