AUTOMATED COMPLEX FOR MEASUREMENT OF THERMOELECTRIC PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS

Authors

  • М. О. Галущак Івано–Франківський національний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано–Франківськ, 76019
  • Б. С. Дзундза Прикарпатський національний університет ім. В. Стефаника, вул. Шевченка, 57, Івано–Франківськ, 76000, Україна, тел. (0342) 596082
  • А. І. Ткачук Івано–Франківський національний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано–Франківськ, 76019
  • Д. М. Фреїк Прикарпатський національний університет ім. В. Стефаника, вул. Шевченка, 57, Івано–Франківськ, 76000, Україна, тел. (0342) 596082

Keywords:

electrical parameter, semiconductor, automation, microcontroller, installation.

Abstract

The method of measuring of electrical parameters (conductivity type, electrical conductivity, Hall coefficient, carrier concentration, mobility, the Seebeck coefficient) of semiconductors has been described. The electrical circuit has been submitted and a computer program has been developed that provides automation of measurement, registration and initial processing of the data with the possibility of charting time dependences for the preliminary analysis of the experimental data which are in the process of measurement. The maximum error of electrical conductivity does not exceed 3%, Hall coefficient – 5%, and Seebeck coefficient – 15%.

Downloads

Download data is not yet available.

References

1. Кучис Е.В. Методы исследования эффекта Холла / Евгений Вітольдович Кучис. – М.: Советское радио, 1974. – 328 с.
2. Ковтонюк Н.Ф. Измерение параметров полупроводниковых материалов / Ковтонюк Н.Ф., Концевой Ю.А. – М.: Металлургия, 1970. – 429 с.
3. Коньков В.Л., Павлов Н.И. Эффект Холла в полупроводниках в неоднородном магнитном поле. // Известия ВУЗов. Физика. – 1969. – N12. – С. 121 – 123.
4. Фреїк Д.М., Дзундза Б.С., Ткачук А.І., Кушнір Т.П. Автоматизація вимірювань електричних параметрів напівпровідникових плівок // Фізика і хімія твердого тіла – 2012. – Т. 13, №3. – С. 816–820.

Downloads

Published

2013-06-12

How to Cite

Галущак, М. О., Дзундза, Б. С., Ткачук, А. І., & Фреїк, Д. М. (2013). AUTOMATED COMPLEX FOR MEASUREMENT OF THERMOELECTRIC PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(30), 79–83. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/161

Issue

No. 1(30) (2013): METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL

Section

METHODS AND DEVICES FOR THE TECHNOLOGICAL PARAMETERS CONNTROL

Most read articles by the same author(s)