Measuring method of thermo-electric quality of semiconductor materials

Authors

  • М. О. Галущак Івано-Франківський національний технічний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано-Франківськ, 76019, тел. (0342) 50-46-12
  • Д. М. Фреїк Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, м. Івано-Франківськ, 76025, тел. (0342) 59-60-82
  • М. О. Карпаш Івано-Франківський національний технічний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано-Франківськ, 76019, тел. (0342) 50-46-12
  • А. І. Ткачук Івано-Франківський національний технічний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано-Франківськ, 76019, тел. (0342) 50-46-12

Keywords:

thermo-electrical properties, specific electric conductivity, temperature, electrical circuit, semiconductor materials, good quality, measurement

Abstract

Analysis of various methods for measurement of semiconductors’ thermo-electrical properties is done. New approach for determination of thermoelectrical figure of merit of semiconductor materials in wide range of temperatures (from 300 to 1000 K) is proposed using direct measurement of electrical circuit parameters which includes special measurement cell. The theoretical background of the method, its application in measurement technique is described in detail as well as experimental accuracy assessment is done

Downloads

Download data is not yet available.

References

1. Фреїк Д.М. Методи вимірювання теплопровідності напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, Р.Я.Михайльонка, В.М.Кланічка // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - Т.5. - № 1. - С.173-191.
2. Goldsmid H.J. Introduction to Thermoelectricity / H.J.Goldsmid. - Springer Heidelberg Dordrecht London New York. - 2009. - Р.250.
3. Harman C. Measurement of Thermal Conductivity by Utilization of the Peltier Effect / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan. // Journal of Applied Physics. - 1959. - № 30(9) - Р. 1351-1359.
4. Harman C. Методика вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів у широкому інтервалі температур / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan //Фізика і хімія твердого тіла. - 2010. - Т.11. – №2. - С.121-128.

Downloads

Published

2011-03-24

How to Cite

Галущак, М. О., Фреїк, Д. М., Карпаш, М. О., & Ткачук, А. І. (2011). Measuring method of thermo-electric quality of semiconductor materials. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(26), 97–99. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/263

Issue

No. 1(26) (2011): METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL

Section

METHODS AND DEVICES FOR THE TECHNOLOGICAL PARAMETERS CONNTROL

Most read articles by the same author(s)

1 2 > >>