Метод вимірювання термоелектричної добротності напівпровідникових матеріалів
Ключові слова:
термоелектричні параметри, питома електропровідність, температура, електричне коло, напівпровідниковий матеріал, добротність, вимірюванняАнотація
Проведено аналіз різноманітних методів вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідників. Запропоновано новий підхід для визначення термоелектричної добротності напівпровідникового матеріалу в широкому інтервалі температур (300÷1000)К шляхом безпосереднього вимірювання ряду параметрів електричного кола, до складу якого входить спеціальна вимірювальна комірка. Детально описано теорію методу, застосування її у методиці вимірювань та зроблено оцінку похибки експерименту
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Посилання
1. Фреїк Д.М. Методи вимірювання теплопровідності напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, Р.Я.Михайльонка, В.М.Кланічка // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - Т.5. - № 1. - С.173-191.
2. Goldsmid H.J. Introduction to Thermoelectricity / H.J.Goldsmid. - Springer Heidelberg Dordrecht London New York. - 2009. - Р.250.
3. Harman C. Measurement of Thermal Conductivity by Utilization of the Peltier Effect / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan. // Journal of Applied Physics. - 1959. - № 30(9) - Р. 1351-1359.
4. Harman C. Методика вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів у широкому інтервалі температур / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan //Фізика і хімія твердого тіла. - 2010. - Т.11. – №2. - С.121-128.
2. Goldsmid H.J. Introduction to Thermoelectricity / H.J.Goldsmid. - Springer Heidelberg Dordrecht London New York. - 2009. - Р.250.
3. Harman C. Measurement of Thermal Conductivity by Utilization of the Peltier Effect / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan. // Journal of Applied Physics. - 1959. - № 30(9) - Р. 1351-1359.
4. Harman C. Методика вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів у широкому інтервалі температур / C.Harman, J.H.Cahn and M.J.Logan //Фізика і хімія твердого тіла. - 2010. - Т.11. – №2. - С.121-128.
##submission.downloads##
Опубліковано
2011-03-24
Як цитувати
Галущак, М. О., Фреїк, Д. М., Карпаш, М. О., & Ткачук, А. І. (2011). Метод вимірювання термоелектричної добротності напівпровідникових матеріалів. Методи та прилади контролю якості, (1(26), 97–99. вилучено із https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/263
Номер
Розділ
МЕТОДИ ТА ПРИЛАДИ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПАРАМЕТРІВ