Cell for measuring parameters of semiconductor thermoelectric materials

Authors

  • Д. М. Фреїк Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, м. Івано-Франківськ, 76025, тел. (0342) 59-60-82
  • М. О. Галущак Івано-Франківський національний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано Франківськ, 76019
  • А. І. Терлецький Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, м. Івано-Франківськ, 76025, тел. (0342) 59-60-82
  • Р. І. Запухляк Івано-Франківський національний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано Франківськ, 76019
  • Н. І. Дикун Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, м. Івано-Франківськ, 76025, тел. (0342) 59-60-82
  • А. І. Ткачук Івано-Франківський національний університет нафти і газу, вул. Карпатська, 15, м. Івано Франківськ, 76019

Keywords:

Chart, design, thermoelectricity

Abstract

The scheme and the construction of cells for stationary measurement method of thermal conductivity coefficients (χ), thermo–E.M.F. (α) and conductivity (σ) of thermoelectric materials in the temperature range (300-750) K. Special attention is given to the selection of heaters, thermocouples, summarized and measuring wires (elements)

Downloads

Download data is not yet available.

References

1. Фреїк Д.М. Методи вимірювання теплопровідності напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, Р.Я. Михайльонка, В.М. Кланічка // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - Т. 5. - №1. - С. 173-191.
2. Семенюк В.А. Физическая электроника. / В.А. Семенюк, В.А. Бевз, А.В. Гармашов. –Львов, 1990. - №40. - С. 18-22.
3 Фреїк Д.М. Стаціонарні методи визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, М.О. Галущак, А.І. Терлецький, Р.І. Запухляк, Н.І. Дикун, А.І. Ткачук // Методи та прилади контролю якості. -2010. - №25. - С. 92-96.

Published

2011-03-24

How to Cite

Фреїк, Д. М., Галущак, М. О., Терлецький, А. І., Запухляк, Р. І., Дикун, Н. І., & Ткачук, А. І. (2011). Cell for measuring parameters of semiconductor thermoelectric materials. METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(26), 94–96. Retrieved from https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/262

Issue

Section

METHODS AND DEVICES FOR THE TECHNOLOGICAL PARAMETERS CONNTROL