Комірка для вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів
Ключові слова:
комірка, схема, конструкція, термоелектрикаАнотація
Представлені схема і конструкція комірки для вимірювання стаціонарним методом коефіцієнтів теплопровідності (χ), термо–Е.Р.С (α) та питомої електропровідності (σ) термоелектричних матеріалів в інтервалі температур (300–750) К. Особлива увага звернена на вибір нагрівників, термопар, підведених і вимірювальних проводів (елементів)
Завантаження
Дані завантаження ще не доступні.
Посилання
1. Фреїк Д.М. Методи вимірювання теплопровідності напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, Р.Я. Михайльонка, В.М. Кланічка // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - Т. 5. - №1. - С. 173-191.
2. Семенюк В.А. Физическая электроника. / В.А. Семенюк, В.А. Бевз, А.В. Гармашов. –Львов, 1990. - №40. - С. 18-22.
3 Фреїк Д.М. Стаціонарні методи визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, М.О. Галущак, А.І. Терлецький, Р.І. Запухляк, Н.І. Дикун, А.І. Ткачук // Методи та прилади контролю якості. -2010. - №25. - С. 92-96.
2. Семенюк В.А. Физическая электроника. / В.А. Семенюк, В.А. Бевз, А.В. Гармашов. –Львов, 1990. - №40. - С. 18-22.
3 Фреїк Д.М. Стаціонарні методи визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д.М. Фреїк, М.О. Галущак, А.І. Терлецький, Р.І. Запухляк, Н.І. Дикун, А.І. Ткачук // Методи та прилади контролю якості. -2010. - №25. - С. 92-96.
##submission.downloads##
Опубліковано
2011-03-24
Як цитувати
Фреїк, Д. М., Галущак, М. О., Терлецький, А. І., Запухляк, Р. І., Дикун, Н. І., & Ткачук, А. І. (2011). Комірка для вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів. Методи та прилади контролю якості, (1(26), 94–96. вилучено із https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/262
Номер
Розділ
МЕТОДИ ТА ПРИЛАДИ КОНТРОЛЮ ТЕХНОЛОГІЧНИХ ПАРАМЕТРІВ